總部設在英國曼徹斯特，自從1940年以其卓越的質譜而著名，SAI（Scientific Analysis Instruments）在1995年1月成立為股份有限公司。是一家擁有三家完全獨立分公司的公司，其主要的完全獨立業務是設計和製造飛行時間質譜儀包含基質輔助雷射脫附游離，氣相層析質譜和二次離子質譜的技術。

SAI不論是今日複雜的科挑戰或是未來可預見的軌跡的質譜領域上提供了一流的領先技術。在電子與運算產業的生命科學和生物奈米材料已經在廣泛的研究與產業市場上被肯定。

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產品

二次離子質譜儀

• MiniSIMS Alpha
• MiniSIMS Tof

基質輔助雷射脫附游離飛行時間 / 飛行時間質譜儀

• LaserTof LT2 Plus
• LaserTof LT3 Plus
• LaserTof TT

氣相層析飛行時間質譜儀

• Kronus GC-Tof MS
• Comprehensive GC (GCxGC)